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大仪平台公示设备-财政经费


ID仪器名称内部编码设备分类编码英文名称规格型号仪器设备类别产地国别生产制造商仪器设备来源原值(万元)启用日期主要技术指标主要功能服务内容对外开放共享规定参考收费标准联系人电话共享模式运行状态海关监管服务记录用户名
157904D干涉仪G20081214其他仪器>其他>其他Phasecam   4020Phasecam   4020通用USA.美国美国4D公司购置131.82008-12-30反射率从1到100%;重复性是1/1000波长;精度达1/500波长光学质量检测光学质量检测不对外共享研制合同季波2585482219内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
157894米龙门移动式数控铣磨机XG20111226工艺实验设备>加工工艺实验设备>其他no4米专用CHN.中国济南戎征达实业有限公司研制6542011-12-274米级数控铣磨,磁流变抛光4米级数控铣磨,磁流变抛光4米级数控铣磨,磁流变抛光不对外共享研制合同徐晨13851882263内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
15788动态干涉仪XG   20121201计量仪器>计量仪器>玻璃材料折射率标准装置Phasecam   4020Phasecam   4020通用USA.美国美国4D公司购置114.892012-12-25RMS重复性&lt0.001λ, RMS精密度&lt0.002λ, 相对测量精度优于λ/15光学质量检测光学质量检测不对外共享研制合同徐晨13851882263内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
15784光学定心定位设备XG20121211电子测量仪器>其他>其他Lenscan   LS 600Lenscan   LS 600通用FRA.法国FOJALE公司购置70.252012-12-25测量范围:0~600mm光学长度, 精度:+/-1 µm(全程), 测试重复性:标准偏差STDEV&lt0.5um,透镜组或补偿镜空气间隔和中心厚测量透镜组或补偿镜空气间隔和中心厚测量不对外共享研制合同徐晨13851882263内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
15782便携式斐索激光干涉仪XG20121212计量仪器>其他>其他noZ100u-633-150通用USA.美国ESDI公司购置70.122012-12-26CCD分辨率:1K×1K ;  PV值&ltλ/20  ;RMS重复性&ltλ/2000平面面形检测平面面形检测不对外共享研制合同徐晨13851882263内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
15778三坐标测量机XG20111225计量仪器>其他>其他Global   advantageGlobal   advantage 15.22.10通用CHN.中国海克斯康测量技术(青岛)有限公司购置119.82011-12-27CCD分辨率:1K×1K ;  PV值&ltλ/20  ;RMS重复性&ltλ/2000镜面面形检测;零件形状及形位公差检测镜面面形检测;零件形状及形位公差检测不对外共享研制合同李博13655174529内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
15777天文光学频率梳XG20150503天文仪器>其他>其他FC1000   250FC1000-250专用DEU.德国德国/Menlo   Systems,GmbaH购置498.12015-5-261、光谱覆盖范围:200 nm      中心波长:540 nm ± 30 nm   2、光谱平坦度:5 dB RMS 3、光梳模间隔:25GHz 4、光功率(全谱段):&gt100μW在天文望远镜项目研究中发挥高精度光谱定标源的功能在天文望远镜项目研究中发挥高精度光谱定标源的功能南京天光所仪器设备共享管理办法(宁天光发【2014】4号文)项目研究合同肖东2585482269外部共享偶有故障0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
15774绝对关节臂测量仪XG20121203电子测量仪器>其他>其他RA7545RA7545通用CHN.中国海克斯康测量技术(青岛)有限公司购置62.642012-12-24测量范围为4.5米,点重复性精度为0.07mm,空间长度测量精度为0.082mm测量零件几何元素,三维坐标,形位公差测量零件几何元素,三维坐标,形位公差不外部共享研制合同姜翔13814046477内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
15773低温实验系统XG20121218其他仪器>其他>其他noQD63通用CHN.中国重庆银河试验仪器有限公司购置1172012-12-31指标-70°~160°,压力范围是常压~ 0.5KPa望远镜低温性能试验望远镜低温性能试验南京天光所仪器设备共享管理办法(宁天光发【2014】4号文)研制合同温海焜2585482298外部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
15771分光光度计XG20111113工艺实验设备>其他>其他LAMBDA950LAMBDA950通用USA.美国美国购置71.32011-11-30光谱特性测试范围为175-3300nm;波长精度最高0.08nm;杂散光—0.00007%T天文光学镜面膜系测试天文光学镜面膜系测试不对外共享研制合同王晋锋2585482246内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
15769WYKO干涉仪G2000-10-9物理性能测试仪器>光电测量仪器>其他WYKO   RTI 4100WYKO-RTI-4100通用USA.美国美国   wyko公司购置97.562000-10-31定量检测精度RMS≦l/200, l=632.8nm.光学质量检测光学质量检测不对外共享研制合同袁吕军2585482237内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
157674D干涉仪XG20111019计量仪器>计量仪器>其他4D   Technology4020   泰曼格林通用USA.美国美国4D公司购置135.552011-10-25反射率从1到100%;重复性是1/1000波长;精度达1/500波长光学质量检测光学质量检测不对外共享研制合同何丽2585482268内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
15745环抛机G20061004工艺实验设备>其他>其他no3.6M专用USA.美国美国购置261.652006-10-31光学镜面磨制光学镜面抛光光学镜面抛光不对外共享研制合同武中华2585482236内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
15743表面粗糙度仪(轮廓仪)XG20111114计量仪器>计量仪器>玻璃材料折射率标准装置4DNANOAM   Nq4DNANOAM   Nq通用USA.美国美国4D公司购置98.122011-11-22"Acquisition Rate > 14 frames/sec max data acquisition with post processing   Minimum Exposure < 100 μsec   Sample Reflectivity 1% to 100% Vertical Range 115 nm step max   RMS Repeatability 1 < 0.005 nm   RMS Precision 2 < 0.1 nm"光学镜面粗糙度测量光学镜面粗糙度测量不对外共享研制合同何丽2585482268内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
15741红外光学非球面面形测量仪XG20131220计量仪器>计量仪器>其他PGI   Dimension 3XLPGI   Dimension 3XL通用GBR.英国UK/TAYLOP   HOBSON购置294.162013-12-31最大被测件口径达到300mm;   光学面形测量精度≤0.2um;重复精度≤50nm 半径测量精度≤0.1%;提供红外光学元件(最大口径约300mm)的非球面面形检测能力。提供红外光学元件(最大口径约300mm)的非球面面形检测能力。不对外共享研制合同苏志德2585482268内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
15733动态干涉仪G20150823计量仪器>计量仪器>玻璃材料折射率标准装置PhaseCam   4020PhaseCam   4020通用USA.美国美国4D公司购置107.822015-8-31RMS重复性&lt0.001λ, RMS精密度&lt0.002λ, 相对测量精度优于λ/15光学质量检测光学质量检测不对外共享科研合同苏志德2585482268内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
15727折射率测量仪XG20160307物理性能测试仪器>光电测量仪器>其他pectroMaster   130 VISpectroMaster   130 VIS通用DEU.德国德国/三角光学购置108.252016-3-1测量范围:404-852nm   角度测量精度:单次测量:±0.5";多次测量平均值:±0.2" 折射率测量精度:±5×10-6用于对光学材料的折射率做精密测量用于对光学材料的折射率做精密测量内部共享相关合同苏志德2585482268内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
15720光学镀膜设备XG20121216工艺实验设备>其他>其他coating   machineZZS1100-8/G通用CHN.中国成都南光机器有限公司购置1182007-8-11.1米光学多层镀膜,极限真空:9.5×10-5Pa,烘烤温度270℃±10℃(30 min内达到),石英晶体膜厚控制仪(采用INFICON的XTC双探头)光学薄膜的镀制光学薄膜的镀制内部共享研制合同王晋峰2585482246内部共享正常0中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所